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產(chǎn)品中心

Product Center

XT200超聲波測(cè)厚儀

產(chǎn)品簡介

XT200超聲波測(cè)厚儀采用性能高、低功耗微處理器技術(shù),基于超聲波測(cè)量原理,可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量??梢詫?duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。

產(chǎn)品廠地:合肥市
更新時(shí)間:2024-05-20
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:1026
詳細(xì)介紹在線留言
品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間1-1千
應(yīng)用領(lǐng)域文體,建材,交通,冶金

XT200超聲波測(cè)厚儀

一、產(chǎn)品概述:

本儀器是智能本儀器是智型超聲波測(cè)厚儀,采用高性能、低功耗微處理器技術(shù),基于超聲波測(cè)量原理,可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量??梢詫?duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^程中受腐蝕后的減薄程度,也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。本儀器可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多個(gè)領(lǐng)域。

二、技術(shù)參數(shù):

項(xiàng)目

單位

性能指標(biāo)和功能

顯示方法

 

高對(duì)比度的128*64液晶顯示,高亮度EL背光;

測(cè)量范圍

mm

0.28 ~ 600.0(鋼)

材料聲速

m/s

1000 ~ 9999

分辨力

mm

0.01

示值精度誤差

mm

測(cè)量范圍 0.28 ~ 3.3時(shí),分辨力0.01,允許誤差±0.05測(cè)量范圍3.3 ~ 99.99時(shí),分辨力0.01,允許誤差±(1‰H+0.04)測(cè)量范圍100.0 ~ 300.0時(shí),分辨力0.01,允許誤差±3‰H測(cè)量范圍300.0 ~ 600.0時(shí),分辨力0.01,允許誤差±5‰H注:H為測(cè)量的厚度

測(cè)量周期

 

單點(diǎn)測(cè)量時(shí)每秒鐘6次;

校正模式

 

配機(jī)試塊4mm自動(dòng)校正 /用戶自定義校正(單點(diǎn)校正 /雙點(diǎn)校正)

測(cè)量功能

 

小讀數(shù)俘獲、平均測(cè)量、設(shè)限測(cè)量、差值測(cè)量 等軟件功能可選

測(cè)量模式

 

R-B1(發(fā)射脈沖至一次回波)

動(dòng)態(tài)測(cè)聲速功能

 

可利用輸入已知厚度,動(dòng)態(tài)掃查測(cè)讀被測(cè)工件的聲速

智能電源功能

 

開機(jī)閑置一段時(shí)間后,儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)電池低壓指示

蜂鳴器

 

校準(zhǔn)提示、超限提示

存儲(chǔ)

 

40組測(cè)厚數(shù)據(jù)(僅測(cè)量值,聲速值)40組參數(shù)數(shù)據(jù)集(包括測(cè)量值、儀器設(shè)置等參數(shù))

語言

 

中文/英文 可選

單位制式

 

公制(mm)/英制(inch)可選

工作時(shí)間

h

≥30

供電模式

 

二節(jié)5號(hào)電池

工作溫度

-10 ~ 40

重量

g

約245g(含電池)

尺寸

mm

145mm×74mm×32 mm(高×寬×厚)

三、主要功能:

適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度;

可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的探頭使用;

已知厚度可以反測(cè)聲速,以提高測(cè)量精度;

具有耦合狀態(tài)提示功能;

有EL背光顯示,方便在光線昏暗環(huán)境中使用;

有剩余電量指示功能,可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量;

具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能;

小巧、便攜、可靠性高,適用于惡劣的操作環(huán)境,抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾;

四、工作原理:

本超聲波測(cè)厚儀對(duì)厚度的測(cè)量,是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過耦合劑到達(dá)被測(cè)體,一部分超聲信號(hào)被物體底面反射,探頭接收由被測(cè)體底面反射的回波,精確地計(jì)算超聲波的往返時(shí)間,并按下式計(jì)算厚度值,再將計(jì)算結(jié)果顯示出來。

                                       

式中:H-測(cè)量厚度;v-材料聲速;

t-超聲波在試件中往返一次的傳播時(shí)間。

五、XT200超聲波測(cè)厚儀儀器配置:

 

六、探頭選擇:

 

七、工作條件:

環(huán)境溫度:操作溫度-20℃~+50℃;存儲(chǔ)溫度:-30℃~+70℃

相對(duì)濕度≤90%;

周圍環(huán)境無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)烈磁場(chǎng)、無腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。

八、材料聲速表:

 

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